Quadra 系列X射线检测系统
更新时间：2022-07-01
信息编号：1652744
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系列X射线检测系统? Quadra 系列X射线检测系统的型QuadraNT 密封式X射线管技术，追赶光学成像，可实现电子产品及元器件内部遮蔽区域的无损检测，较高可放大68000倍。 ? ? 具有?0.95 μm?特征识别分辨率，基于X-Plane?图像分层技术，是用于PCBA?生产线质量控制的理想解决方案。 ? 可检测?BGA?和?QFN元件焊接情况、焊接短路、通孔填充以及仿冒组件。 ? Quadra 5 能够在具有挑战性的工艺过程中发挥出色表现。 ? 0.35 μm?特征分辨率和高功率输出使其具备了?额外的高分辨率焊线、封装级检测和故障分析功能。 ? ? Quadra 7 具有0.1 μm?特征分辨率，可实现*高清图像，是市面上性能较优越的故障分析和生产质量控制X射线检测设备。 ? 随着组件和电路板的尺寸越来越小，Quadra 7?可帮助您满足当前和未来的质量需求。 ? ? XD系列X射线检测系统 用于电子元件生产和大板应用的可靠X射线检测系统。 ? ? Jade FP XD7500VR Jade FP配备开放式透射型?X?射线管，是一种用于PCBA?生产质量控制的经济效益型设备。 Ruby XL XD7800NT Ruby XL?的检测区域范围可达?96 x 67 cm (37.9” x 26.4”)?，是大板应用的理想解决方案。 0.5 μm?特征识别可实现PCBA级质量控制、封装级检测和故障分析。 ? X射线系统选配件 这些配件可以帮助您强化DAGE X射线检测系统的性能。 ? X-Plane? *额外的CT?硬件即可观察样本分层。X-Plane附加软件可以轻松方便的检视复杂的PCBA布局，如：双面板?、层叠封装结构，也可以检测焊接空洞。 μCT计算机断层摄影 ? 创建高分辨率的?3D模型和图像分层。μCT?可以清晰可靠地检测到微观特征和缺陷，是故障分析应用的理想选择。 ?
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